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超星学习通【24秋】材料现代测试分析技术作业答案 (2)
超新学习通 2025-03-26 18:36:42 2 0
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超星学习通【24秋】材料现代测试分析技术作业答案 (2)

【24秋】材料现代测试分析技术

学校: 无

问题 1: 1. 最常用的X射线衍射方法是( )。

选项:

  • A. 劳厄法

  • B. 粉末多晶法

  • C. 周转晶体法

  • D. 德拜法

答案: 粉末多晶法

问题 2: 2. 德拜法中对试样的要求除了无应力外,粉末粒度应为( )。

选项:

  • A. <325目

  • B. >250目

  • C. 在250-325目之间

  • D. 任意大小

答案: 在250-325目之间

问题 3: 3. 衍射仪法中的试样形状是( )。

选项:

  • A. 丝状粉末多晶

  • B. 块状粉末多晶

  • C. 块状单晶

  • D. 任意形状

答案: 块状粉末多晶

问题 4: 4. 原子散射因数与其原子序数有何关系,原子序数越大,原子散射因数越 。

选项:

答案: 大

问题 5: 5. 德拜相机有两种,直径分别是 和Φ mm。测量θ角时,底片上每毫米对应 º和 º

选项:

答案: 57.3

问题 6: 6. 可以用作X射线探测器的有 、 和 等。

选项:

答案: 正比计数器

问题 7: 7. 影响衍射仪实验结果的参数有 、 和 等。

选项:

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问题 8: 8. 德拜法采用一束特征X射线 照射多晶体试样,并用 底片记录。

选项:

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问题 9: 9. 当光波为λ的X射线照射时,某微晶体中面间距为d的晶面,若要发生反射,必须的条件是它在空间相对与 成θ角放置,即满足布拉格方程。

选项:

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问题 10: 10. 由于衍射线的相互干涉,某些方向的强度将会 ,而某些方向的强度将会 甚至 。这种规律习惯称为消光系统。

选项:

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问题 11: 11. 吸收因数A(θ)与试样的 、 、 以及 有关。

选项:

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问题 12: 12. 某种晶面的等同晶面数增加,参与衍射的几率 ,相应的衍射 。我们称某种晶面的等同晶面数为影响衍射强度的多重性因数P。

选项:

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问题 13: 13. 影响衍射强度的因子有: 、 、 、 、 。

选项:

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问题 14: 14. 各微晶体中满足布拉格方程的d晶面(某微晶体中面间距为d的晶面),在空间排列成一个 面。

选项:

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问题 15: 15. 当单色X射线照射多晶试样时,衍射线将分布在一组以 线为轴的圆锥面上。

选项:

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问题 16: 16. 结构因子只与原子的 及在单胞的位置有关,而不受单细胞的 和大小的影响。

选项:

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问题 17: 17. 分布曲线所围成的面积称为 。

选项:

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问题 18: 18. 表征了单胞结构对衍射强度的影响。

选项:

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问题 19: 19. 表征了衍射的几何条件对衍射强度的影响。

选项:

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问题 20: 20. 表征了试样本身对X射线的吸收对衍射强度的影响。

选项:

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问题 21: 1. 测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是( )。

选项:

  • A. 外标法

  • B. 内标法

  • C. 直接比较法

  • D. K值法

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问题 22: 2. X射线物相定性分析时,若已知材料的物相可以查( )进行核对。

选项:

  • A. Hanawalt索引

  • B. Fenk索引

  • C. Davey索引

  • D. A或B

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问题 23: 3. 德拜法中精确测定点阵常数其系统误差来源于( )。

选项:

  • A. 相机尺寸误差

  • B. 底片伸缩

  • C. 试样偏心

  • D. A+B+C

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问题 24: 4. 材料的内应力分为三类,X射线衍射方法可以测定( )。

选项:

  • A. 第一类应力(宏观应力)

  • B. 第二类应力(微观应力)

  • C. 第三类应力

  • D. A+B+C

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问题 25: 5. Sin

选项:

  • A. 确定的Ψ角

  • B. 0-45º之间任意四点

  • C. 0º、45º两点

  • D. 0º、25º、35º、45º四点

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问题 26: 6. 德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是( )。

选项:

  • A. 正装法

  • B. 反装法

  • C. 偏装法

  • D. A+B

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问题 27: 7. 连续扫描常用于物相 分析。

选项:

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问题 28: 8. 第一类应力导致X射线衍射线 ;第二类应力导致衍射线 ;第三类应力导致衍射线 。

选项:

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问题 29: 9. X射线物相分析包括 和 ,而 更常用更广泛。

选项:

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问题 30: 10. 常用于精确测定衍射峰的积分强度、位置,或提供线形分析所需的数据的方法是 。

选项:

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问题 31: 11. X射线物相定量分析方法有 、 、 等

选项:

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问题 32: 12. 按照与入射线的相对位置,德拜相机的底片可以有 、 、 三种安装法。

选项:

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问题 33: 13. X射线管阳极元素应使用X射线管所发射的标志X射线不激发出试样元素的二次标识X射线。通常选择周期表中原子序数较样品小的元素作阳极。一般原则为Z

选项:

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问题 34: 14. 在摄照规程的选择应考虑到的有 、 、 和 、曝光时间。

选项:

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问题 35: 15. 选择某种元素(或其氧化物),其K吸收限刚好处于入射X射线的K

选项:

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问题 36: 16. 阳极元素的K系标识谱出现的最低电压称为该元素的K系临界激发电压。当管电压为临界激发电压的 倍时,标识谱与连续谱的强度比例可达到最佳。

选项:

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问题 37: 17. 聚焦法要求 、 以及 的聚焦点都在同一个聚焦圆上。

选项:

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问题 38: 18. 德拜相机摄照时间与对称聚焦照相法相比摄照时间要 ,这是因为 。

选项:

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问题 39: 19. 使单晶体的某个反射能力强的晶面平行于外表面,调整与入射线的夹角使满足 关系,就能反射出纯净而强的单色光。

选项:

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问题 40: 20. 目前在X射线衍射仪上已普遍使用 单色器,其反射效率较高。

选项:

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问题 41: 21. X射线衍射仪由 、 、 、 或 等部分组成,其中 是仪器的中心部分。

选项:

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问题 42: 22. 在X射线衍射仪中,计数管能将不同强度的X射线转化为 信号,并通过 、 将信号记录下来。

选项:

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问题 43: 23. 测角仪与晶体单色器联用,能很好地消除 ,并降低由于 及 所产生的背底。

选项:

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问题 44: 24. 正比计数器简写 ,闪烁计数器简写 位敏正比计数器简写 。

选项:

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问题 45: 25. 正比计数器的优点 ,缺点 。

选项:

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问题 46: 26. 闪烁计数器的优点 ,缺点 。

选项:

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问题 47: 27. 脉冲高度分析器由 、 、 和 组成。

选项:

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问题 48: 28. 衍射强度的测量中,连续扫描法常用于 ;步进扫描法常用于精确测定衍射峰的 、 ,或提供线性分析所需的数据。

选项:

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问题 49: 29. 相机分辨率表示晶面间距变化所引起衍射线条位置相对改变的灵敏程度。 在ΔL=ψΔd/d 中ψ越大,灵敏度 。

选项:

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问题 50: 1. 化学分析、光谱分析、X射线荧光光谱分析、X射线微区域分析等均可测定样品的元素组成,但 却可鉴别样品中的物相。

选项:

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问题 51: 2. 物相包括 、 和 。

选项:

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问题 52: 3. 当待测样由单质元素或其混合物组成时,X射线物相分析所指示出的是 ;但当元素相互组成化合物或固溶体时,则所给出的是 或 。

选项:

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问题 53: 4. 粉末衍射卡片第2栏为 ,其中Rad.为 。

选项:

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问题 54: 5. 定性分析 从开始,可在X射线衍射仪上绘画衍射图,或者用X射线晶体分析仪摄照德拜相,从衍射花样上要测量出各衍射线对应的 及 。

选项:

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问题 55: 6. 物相定量分析的依据是: 。

选项:

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问题 56: 7. 只需通过测量混合样品中欲测相(j相)某根衍射线的强度并与纯j相同一线条强度对比,即可定出j相在混合样品中的相对含量,此法称为 。

选项:

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问题 57: 8. 常用的定量分析方法有 、 和 等。

选项:

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问题 58: 9. 用X射线法来测定物质的点阵参数,是通过测定某晶面的 来计算。所以立方晶体的点阵参数计算公式为 。(干涉面指数HKL)

选项:

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问题 59: 10. 内标法与K值法相比存在哪些缺点 。

选项:

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问题 60: 11. 点阵参数a的精度主要取决于 。

选项:

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问题 61: 12. 在用X射线法来测定物质的点阵参数时,应选择角度尽可能高的线条进行测量,这是因为 。

选项:

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问题 62: 13. 非晶态物质主要包括 、 、 、 、 非晶聚合物和非晶陶瓷等。

选项:

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问题 63: 14. 非晶态物质最主要的特征为 、 。

选项:

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问题 64: 15. 非晶态与晶态结构的主要区别为 。

选项:

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问题 65: 16. 非晶态结构有自发向晶态转化的趋势,这是因为 。

选项:

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问题 66: 17. 经过 、 、 或其他 手段处理后,非晶态会通过结构弛豫逐渐向晶态过度。

选项:

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问题 67: 18. 内标法的基本方程为 。

选项:

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问题 68: 19. K值法基本方程为 。

选项:

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问题 69: 20. 每种结晶物质都有其特定的结构参数,包括 、 、单胞原子的 及其 等。

选项:

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问题 70: 1. 第一类内应力(宏观应力)使 位移,第二类内应力引起的 变化,第三类内应力使 强度降低。

选项:

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问题 71: 2. 残余应力是一种 力。

选项:

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问题 72: 3. 产生应力的各种因素不复存在时,由于形变、体积变化不均匀而存留在构件内部并自身保持平衡的应力称为 。

选项:

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问题 73: 4. 第一类内应力: 。

选项:

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问题 74: 5. 第二类内应力: 。

选项:

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问题 75: 6. 第三类内应力: 。

选项:

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问题 76: 7. 通常把第二类和第三类应力称为“ ”。

选项:

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问题 77: 8. 测定宏观应力的方法很多,用钻孔、开槽或剥层等方法使应力松弛,用电阻应变片测量变形以计算残余应力,这种方法是 。

选项:

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问题 78: 9. 测定宏观应力的方法很多,利用应力敏感性的方法,如超声、磁性、X射线衍射等,这种方法是 。

选项:

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问题 79: 10. X射线衍射法除是无损法外,还具有 、 和测量小区域应力的优点,又能区分和测出三种不同类别的应力。

选项:

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问题 80: 11. 目前宏观应力多用衍射仪法测量,常选用的衍射几何方式有两种: 、 。

选项:

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问题 81: 12. 在固定ψ法中,为了减少散焦的影响,可采取: 、 两种措施。

选项:

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问题 82: 13. 宏观应力是根据不同取向晶面的衍射峰位的相对变化测定的,这种方法称为 。

选项:

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问题 83: 14. 侧倾法的特点是 平面和 平面垂直。

选项:

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问题 84: 15. 影响宏观应力测量精确度的因素主要有 、 两个。

选项:

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问题 85: 16. 在一块冷轧钢板中可能存在 种内应力,分别是 、 、 。

选项:

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问题 86: 17. 一框架与置于其中的梁(如图a所示)在焊接前无应力,当将梁的两端焊接在框架上后(如图b所示),梁受热升温,而框架基本处于室温,梁冷却时,其收缩会受到框架的限制而受 应力。

选项:

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问题 87: 18. 侧倾法具有的优点有: 。

选项:

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问题 88: 19. 在衍射仪上对试样进行常规的对称衍射时,入射线与计数管轴线对称布置在试样的两侧,计数管与试样以 的角速度转动,在此条件下记录的衍射峰所对应的衍射晶面必须平行于试样表面。

选项:

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问题 89: 20. 通常用于宏观应力测量的定峰法有 、 两种。

选项:

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问题 90: 1. 若H-800电镜的最高分辨率是0.5nm,那么这台电镜的有效放大倍数是( )。

选项:

  • A. 1000;

  • B. 10000

  • C. 40000

  • D. 600000

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问题 91: 2. 可以消除的像差是( )。

选项:

  • A. 球差

  • B. 像散

  • C. 色差

  • D. A+B

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问题 92: 3. 可以提高TEM的衬度的光栏是( )。

选项:

  • A. 第二聚光镜光栏

  • B. 物镜光栏

  • C. 选区光栏

  • D. 其它光栏

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问题 93: 4. 电子衍射成像时是将( )。

选项:

  • A. 中间镜的物平面与与物镜的背焦面重合

  • B. 中间镜的物平面与与物镜的像平面重合

  • C. 关闭中间镜

  • D. 关闭物镜

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问题 94: 5. TEM中的透镜有两种,分别是 和 。

选项:

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问题 95: 6. TEM中的三个可动光栏分别是 位于 , 位于 , 位于 。

选项:

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问题 96: 7. TEM成像系统由 、 和 组成。

选项:

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问题 97: 8. TEM的主要组成部分是 、 和观 ;辅助部分由 、 和 组成。

选项:

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问题 98: 9. 电磁透镜的像差包括 、 和 。

选项:

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问题 99: 10. 分辨率是指成像物体(试样)上能分辨出来的 。

选项:

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问题 100: 11. 光学显微镜的分辨率为 ,其中波长越短,分辨率越好。

选项:

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问题 101: 12. 在可见光波长范围,光学显微镜的分辨率的极限为 。

选项:

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问题 102: 13. 电子显微镜的照明光源是 。它的波长取决于电子运动的速度和质量,用公式表示为 。

选项:

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问题 103: 14. 如果电子速度较低,则它的质量m和静止质量m

选项:

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问题 104: 15. 透射电子显微镜中用磁场来使电子波聚焦成像的装置是 。

选项:

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问题 105: 16. 一束平行于主轴的入射电子束通过电磁透镜时将 ,即焦点。

选项:

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问题 106: 17. 无论励磁方向如何,电磁透镜的焦距总是 。改变励磁电流,电磁透镜的焦距和放大倍数将 。

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问题 107: 18. 像差可分两类,分别为 、 。

选项:

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问题 108: 19. 几何相差主要是指 、 。

选项:

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问题 109: 20. 色差形成的原因是 。

选项:

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问题 110: 21. 电磁透镜的分辨率由 和 来决定。

选项:

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问题 111: 22. 电磁透镜是一种变焦距或变倍率的会聚透镜,另一特点是 。

选项:

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问题 112: 23. 像散形成的原因为 。

选项:

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问题 113: 24. 几何像差形成的原因为 。

选项:

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问题 114: 1. 透射电子显微镜是以 的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种 、 的电子光学仪器。

选项:

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问题 115: 2. 透射电子显微镜由 、 及 和三部分组成。

选项:

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问题 116: 3. 透射电镜的主要特点是可以进行 与 同位分析。

选项:

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问题 117: 4. 照明系统由 、 和 、 组成。

选项:

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问题 118: 5. 电子枪是透射电子显微镜的 。常用的是热阴极电极枪,它由 、 及
组成。

选项:

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问题 119: 6. 聚光镜用来 电子枪射出的电子束,以最小的损失照明样品,调节照明强度、孔径角和束斑大小。

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问题 120: 7. 成像系统主要由 、 和 组成。

选项:

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问题 121: 8. 物镜是 的透镜,放大倍数为100~300倍。

选项:

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问题 122: 9. 中间镜是 的透镜,放大倍数为0~20倍。

选项:

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问题 123: 10. 投影镜是 的透镜。

选项:

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问题 124: 11. 如果物镜的放大倍数M

选项:

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问题 125: 12. 观察和记录装置包括 和 。

选项:

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问题 126: 13. 如果把中间镜的物平面和 ,这就是电子显微镜中的成像操作;如果把中间镜的物平面和 ,这就是透射电子显微镜中的电子衍射操作。

选项:

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问题 127: 14. 新型的电子显微镜都带有电磁偏转器,利用电磁偏转器可以使入射电子束 和 。

选项:

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问题 128: 15. 在透射电子显微镜中有三种主要活动光阑,它们是 、 和 。

选项:

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问题 129: 16. 在透射电子显微镜中, 和 分别安放在物镜后焦面和物镜像平面上。

选项:

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问题 130: 17. 在透射电子显微镜中,聚光镜光阑的作用是 ;若作微束分析,则应采用 。

选项:

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问题 131: 18. 加入物镜光阑使物镜孔径角减小,能 相差,得到质量较高的显微图像。物镜光阑的另一个主要作用是在后焦面上套取 成像。

选项:

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问题 132: 19. 在透射电子显微镜中,选区光阑可以制成大小不同的四孔一组的光阑片,由 分档推入镜筒。

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问题 133: 20. 消像散器的作用是 。

选项:

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问题 134: 21. 选区光阑又称场限光阑或场光阑。一般都放在 位置。其作用是便于分析样品上的一个微小区域。

选项:

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问题 135: 1. 单晶体电子衍射花样是( )。

选项:

  • A. 规则的平行四边形斑点

  • B. 同心圆环

  • C. 晕环

  • D. 不规则斑点

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问题 136: 2. 薄片状晶体的倒易点形状是( )。

选项:

  • A. 尺寸很小的倒易点

  • B. 尺寸很大的球

  • C. 有一定长度的倒易杆

  • D. 倒易圆盘

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问题 137: 3. 当偏离矢量S<0时,倒易点是在厄瓦尔德球的( )。

选项:

  • A. 球面外

  • B. 球面上

  • C. 球面内

  • D. B+C

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问题 138: 4. 能帮助消除180º不唯一性的复杂衍射花样是( )。

选项:

  • A. 高阶劳厄斑

  • B. 超结构斑点

  • C. 二次衍射斑

  • D. 孪晶斑点

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问题 139: 5. 菊池线可以帮助( )。

选项:

  • A. 估计样品的厚度

  • B. 确定180º不唯一性

  • C. 鉴别有序固溶体

  • D. 精确测定晶体取向

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问题 140: 6. 如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是( )。

选项:

  • A. 六方结构

  • B. 立方结构

  • C. 四方结构

  • D. A或B

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问题 141: 7. 电子衍射和X射线衍射的不同之处在于 不同、 不同,以及 不同。

选项:

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问题 142: 8. 电子衍射产生的复杂衍射花样是 、 、 、 和 。

选项:

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问题 143: 9. 偏离矢量S的最大值对应倒易杆的长度,它反映的是θ角 布拉格方程的程度。

选项:

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问题 144: 10. 单晶体衍射花样标定中最重要的一步是 。

选项:

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问题 145: 11. 二次衍射可以使密排六方、金刚石结构的花样中在 产生衍射花样,但体心立方和面心立方结构的花样中 。

选项:

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问题 146: 12. 电子衍射的原理和X射线衍射相似,是以满足 作为产生衍射的必要条件。

选项:

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问题 147: 13. 电子衍射和X射线相比,电子波的波长比X射线 ,在同样满足布拉格条件时,它的衍射角θ 。

选项:

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问题 148: 14. 电子衍射和X射线相比,电子衍射采用薄晶样品,倒易阵点和爱瓦尔德球相交截的机会增加,使 的电子束也能发生衍射。

选项:

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问题 149: 15. 电子衍射和X射线相比,电子衍射产生的衍射斑点能比较直观地反映晶体内各晶面的 。

选项:

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问题 150: 16. 电子衍射和X射线相比,电子衍射束的强度较大,适合于 分析,摄取衍射花样时曝光时间仅需数秒钟。

选项:

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问题 151: 17. 晶体点阵结构与电子衍射斑点之间可以通过一个假想的点阵很好地联系起来,这就是

选项:

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问题 152: 18. 标定单晶单子衍射花样的目的是确定零层倒易截面上各g

选项:

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问题 153: 19. 当晶体内部的原子或离子产生有规律的位移或不同种原子产生有序排列时,将引起其电子衍射结果的变化,既可以使本来消光的斑点出现,这种额外的斑点称为 。

选项:

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问题 154: 20. 材料在凝固、相变和变形过程中,晶体内的一部分相对于基体按一定的对称关系生长,即形成 。

选项:

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问题 155: 21. 在正点阵中,同时平行于某一晶向[uvw]的一组晶面构成一个晶带,而这一晶向称为这一晶带的 。

选项:

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问题 156: 22. 零层倒易面上矢量g

选项:

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问题 157: 23. 相对于某一特定晶带轴的零层倒易截面内,各倒易阵点的指数受到:
① ;
② 。

选项:

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问题 158: 24. F

选项:

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问题 159: 25. F

选项:

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问题 160: 26. F

选项:

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问题 161: 1. 高分辨透射电子显微镜与普通透射电子显微镜相比,最大的区别在于高分辨透射电子显微镜配备了 和 组合,减小了样品台的倾角,从而可获得较小的 球差系数,得到更高的分辨率。

选项:

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问题 162: 2. 高分辨透射电子显微镜的记录设备常常配备 图像增强器或慢扫描 相机。

选项:

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问题 163: 3. 用电子显微镜底片记录显微像,底片具有 优点,但也有 缺点。

选项:

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问题 164: 4. 慢扫描CCD相机可把显微镜像 信号转换为 信号,能够直接显示在监视器屏幕上或者存储在软盘与光盘中。

选项:

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问题 165: 5. 晶体的高分辨像是由电子枪发射的电子波经过晶体后,携带它的信息,经过电子透镜在电子显微镜的 与 干涉成像的结果。

选项:

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问题 166: 6. 高分辨像主要有 、 、 、 以及 等多种像。

选项:

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问题 167: 7. 如果用物镜光阑选择后焦平面上的两个波来成像,由于两个波的干涉,得到一维方向上强度呈周期变化的条纹花样,这就是 。

选项:

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问题 168: 8. 如果倾斜晶体,使电子束平行于某一晶面入射,就可以获得一维衍射条纹的花样,这就是 。

选项:

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问题 169: 9. 如果电子束平行于某晶带轴入射,就可以满足二维衍射条件的衍射花样,在透射波附近出现反映晶体单胞的衍射波,这就是 。

选项:

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问题 170: 10. 在分辨率允许的范围内,尽可能多用衍射波成像,就可以使获得的像中含有单胞内原子排列的信息。一般结构像只有在比较薄的区域才能观察到,但对于轻元素在较厚的区域也可以观察到结构像,这就是 。

选项:

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问题 171: 11. 电子束传播过非常薄的试样,试样中原子核和核外电子产生的库伦场会使电子波的相位有起伏,如果能把这个相位变化转变为相衬度,则称为 。

选项:

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问题 172: 12. 欠焦量是影响相位衬度的关键因素,只有在 条件才能获得高相位衬度。

选项:

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问题 173: 13. 样品厚度是影响相位衬度的重要因素,随样品 增加,透射波和衍射波的振幅、相位随之而变,成像机制也发生改变,逐渐由相位衬度转变为 。

选项:

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问题 174: 14. 晶格像是以透射波和同晶带的衍射波干涉生成晶格条纹,晶格像广泛用在 等领域的研究上。

选项:

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问题 175: 15. 结构像是透射束加多个衍射束在平行晶带轴条件下成像,要满足谢尔策欠焦。它可以在原子尺度上定量研究 结构和 结构。

选项:

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问题 176: 16. 高分辨像的衬度与原子排列有何对应关系,满足 及 下拍摄的像能正确反应晶体结构,不满足时,需要与计算机 模拟的像进行匹配来确定晶体结构。

选项:

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问题 177: 17. 高分辨像模拟计算机主要分4大步骤:
① ;
② ;
③ ;
④ 。

选项:

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问题 178: 18. 高分辨透射电子显微术是材料原子级别显微组织结构的 显微术。

选项:

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问题 179: 19. 高分辨透射电子显微镜在诸多的领域得到的应用,试举出4各领域:
、 、 、 。

选项:

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问题 180: 20. 慢扫描CCD相机的灵敏度、线性度、动态范围、探测效率和灰度等级明显优于底板,而 稍低于底板。

选项:

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问题 181: 1. 在扫描电子显微镜中,下列二次电子像衬度最亮的区域是( )。

选项:

  • A. 和电子束垂直的表面;

  • B. 和电子束成30º的表面;

  • C. 和电子束成45º的表面;

  • D. 和电子束成60º的表面。

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问题 182: 2. 扫描电子显微镜配备的成分分析附件中最常见的仪器是( )。

选项:

  • A. 波谱仪;

  • B. 能谱仪;

  • C. 俄歇电子谱仪;

  • D. 特征电子能量损失谱。

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问题 183: 3. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是( )。

选项:

  • A. 背散射电子;

  • B. 二次电子;

  • C. 吸收电子;

  • D. 透射电子。

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问题 184: 4. 可以探测表面1nm层厚的样品成分信息的物理信号是( )。

选项:

  • A. 背散射电子;

  • B. 吸收电子;

  • C. 特征X射线;

  • D. 俄歇电子。

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问题 185: 5. 波谱仪与能谱仪相比,能谱仪最大的优点是( )。

选项:

  • A. 快速高效;

  • B. 精度高;

  • C. 没有机械传动部件;

  • D. 价格便宜。

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问题 186: 6. 扫描电子显微镜的放大倍数是 的扫描宽度与 的扫描宽度的比值。在衬度像上颗粒、凸起的棱角是 衬度,而裂纹、凹坑则是 衬度。

选项:

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问题 187: 7. 扫描电子显微镜的分辨率介于 镜和 镜间。

选项:

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问题 188: 8. 电子束与固体样品相互作用可以产生
、 、 、 、 、 等

选项:

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问题 189: 9. 分辨率最高的物理信号是 为 nm,分辨率最低的物理信号是 为 nm以上。

选项:

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问题 190: 10. 被固体样品中的原子核反弹回来的一部分入射电子,称为 。它能够用作形 。

选项:

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问题 191: 11. 在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子,称为 。它能用作 。

选项:

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问题 192: 12. 入射电子进入样品后,经多次非弹性散射能量损失殆尽,最后被样品吸收的电子,称为 。它能作用 。

选项:

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问题 193: 13. 如果被分析的样品很薄,就有一部分入射电子穿过薄样品而成为 。它可用作 。

选项:

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问题 194: 14. 当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时,原子就会处于能量较高的激发状态,此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺,从而使具有特征能量的X射线释放出来,称为 。它可用作 。

选项:

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问题 195: 15. 在入射电子激发样品的特征X射线过程中,如果在原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量并不以X射线的形式发射出去,而是用这部分能量把空位层内的另一个电子发射出去,这个被电离出来的电子称为 。它可用作 。

选项:

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问题 196: 16. 扫描电子显微镜是由 、 、 三部分组成。

选项:

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问题 197: 17. 电子光学系统包括 、 、 和 。

选项:

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问题 198: 18. 扫描电子显微镜的分辨率和信号种类是有关的:

信号

二次电子

背散射电子

吸收电子

特征x射线

俄歇电子

分辨率

选项:

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问题 199: 19. 当入射电子束作光栅扫描时,若电子束在样品表面扫描的幅度为A

选项:

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问题 200: 20. 断口呈冰糖块状或呈石块状的是 断口,一般认为其原因是 ,从而导致断裂。

选项:

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问题 201: 21. 解理断裂是脆性断裂,是沿着某特定的晶体学晶面产生的 断裂。

选项:

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问题 202: 22. 二次电子形貌衬度的最大用途是 。

选项:

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问题 203: 23. 扫描电子显微镜利用 电子束在样品表面扫面时激发出来的各种物理信号来调节制成的相。

选项:

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问题 204: 24. 可以在同一台扫描电子显微镜上进行 多种微观组织结构信息的同位分析。

选项:

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问题 205: 25. 非弹性背散射电子是入射电子和样品核外电子撞击后产生的非弹性散射,不仅 改变,而且 有不同程度的损失。

选项:

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问题 206: 1. 电子背散射衍射技术可以观察到样品的显微结构,同时获得 数据,并进行 分析。

选项:

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问题 207: 2. 根据相邻晶粒之间位向差角的大小不同可将晶界分为 、 两类。

选项:

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问题 208: 3. 相邻晶粒之间位向差小于10

选项:

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问题 209: 4. 相邻晶粒之间位向差大于10

选项:

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问题 210: 5. 如果界面相邻两侧晶粒不仅取向不同,而且结构或成分也不同,其间界称为 。

选项:

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问题 211: 6. 多晶体的晶体取向可以用 、 、 、三种表示方法。

选项:

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问题 212: 7. EBSD分析系统主要可以由 、 、 、 、 、 、 等七部分组成等。

选项:

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问题 213: 8. 显微组织结构分析包括 。

选项:

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问题 214: 9. 电子束入射到晶体内,会发生非弹性散射而向各个方向传播,散射的强度随着散射的 增大而减小,若散射强度用箭头长度表示,整个散射区域呈现 状。

选项:

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问题 215: 10. 电子束入射到晶体内,会发生非弹性散射而向各个方向传播,其中有相当部分的电子因散射角大而逃出样品表面,这部分电子称为 。

选项:

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问题 216: 11. 电子背散射衍射花样包含4个和样品相关的信息: 、 、 和 。

选项:

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问题 217: 12. 多晶衍射花样是晶体倒易球与反射球的交线,是一个个以透射斑为中心的 。

选项:

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问题 218: 13. 单晶衍射花样是晶体倒易点阵去掉结构消光的倒易杆与反射球的交点,这些点构成 衍射花样

选项:

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问题 219: 14. 当单晶体较厚时,由于散射因素的影响会出现除衍射花样外的一明一暗线对的 衍射花样。

选项:

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问题 220: 15. 根据衍射花样可以推测 或 以及 的程度。

选项:

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问题 221: 16. 当电子束穿过较厚的完整单晶体样品时,衍射图上除斑点花样外,又出现一些平行的亮暗线对,这就是 。

选项:

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问题 222: 17. 描述晶粒尺寸的方法有两种:一是 计算;二是 。

选项:

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问题 223: 18. EBSD是材料分析中的一个强有力的手段,它最大的优点是在要求分析的任一“点”上将
和 计联系起来表征。

选项:

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问题 224: 19. 背散射电子衍射花样似菊池花样,故其又称为 。

选项:

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问题 225: 20. 用EBSD技术不仅能测定各种取向的晶粒在样品中所占的比列,而且还能确定各种取向在显微组织结构中的 。

选项:

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问题 226: 1. 电子探针的功能主要是进行 分析。

选项:

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问题 227: 2. 电子探针的信号检测系统是 。

选项:

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问题 228: 3. 用来测定特征波长的谱仪叫 ,用来测定X射线特征能量的谱仪叫 。

选项:

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问题 229: 4. 电子探针是在 和 原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。

选项:

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问题 230: 5. 在应用波谱仪进行元素分析时,必须使 和 重合,其位置正好位于光学显微镜目镜标尺的中心交叉点上。

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问题 231: 6. 电子探针包括 和 两种仪器。

选项:

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问题 232: 7. 线分析主要用于分析 。

选项:

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问题 233: 8. 电子探针仪的定性分析包括 、 、 三种。

选项:

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问题 234: 9. 和波谱仪相比,能谱仪在分析微区化学成分时的优点有 、 、 、 。

选项:

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问题 235: 10. 和波谱仪相比,能谱仪在分析微区化学成分时的缺点有 、 。

选项:

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问题 236: 11. 分析钢中碳化物成分可用 电子探针仪;分析基体中碳含量可用 电子探针仪。

选项:

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问题 237: 12. 要观察断口形貌,用 电镜来观察;分析断口上粒状夹杂物的化学成分,选用 来分析其化学成分。

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问题 238: 13. 电子探针的种类很多: 、 、 、 等。

选项:

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问题 239: 14. 电子探针的原理与扫面电镜基本相同,所不同的是检测器部分使用的是 ,专门用来检测X射线特征波长或特征能量,以此来对 区的化学成分进行分析。

选项:

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问题 240: 15. 电子探针显微分析的特点有: 、 、 、 、 等。

选项:

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问题 241: 16. 电子与试样相互作用产生 电子、 电子进行形貌观察。

选项:

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问题 242: 17. 电子探针的主要组成部分:
、 、 、 、 、 。

选项:

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问题 243: 18. X射线谱仪分为 、 两类。

选项:

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问题 244: 19. X射线谱仪 、 、 、 、 等组成。

选项:

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问题 245: 20. 在电子探针中,一般点光源S不动,改变 和 的位置,达到分析检测的目的。

选项:

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